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从线性校验子分析方法浅析曾肯成先生的密码分析思想

  • 文/密码学院
  • 日期:2024-06-02
  • 47

编者按

为纪念曾肯成先生(1927–2004)逝世20周年,冯登国院士撰写了《从线性校验子分析方法浅析曾肯成先生的密码分析思想》一文,文章于2024年5月在《密码学报(中英文)》2024年第11卷第2期刊出。


文章摘要

曾肯成先生于1986年洞察到了密码体制中的熵漏现象,后来在此基础上提出著名的线性校验子分析方法。本文全面剖析了线性校验子分析方法的发展历程,由此深刻揭示了曾先生的密码分析思想的精髓。首先,介绍曾先生通过观察Geffe序列生成器的熵漏现象,提出线性校验子分析方法的朴素思想的过程及其蕴含的思想方法;其次,介绍曾先生通过在Geffe序列生成器基础上凝练出的一般问题,提出解决这一问题的一般方法—线性校验子分析方法的过程及其蕴含的思想方法;再次,介绍曾先生通过分析线性校验子分析方法存在的缺陷,进一步完善和改进线性校验子分析方法的过程及其蕴含的思想方法;最后,通过分析从相关分析方法到线性校验子分析方法的进阶之路,阐述了线性校验子分析方法这把利剑的威力。


冯登国.从线性校验子分析方法浅析曾肯成先生的密码分析思想.密码学报.2024,11(2):255-262.

https://doi.org/10.13868/j.cnki.jcr.000678